| dc.contributor.advisor |
Martínek, Tomáš
|
|
| dc.contributor.author |
Ďurčák, Samuel
|
|
| dc.date.accessioned |
2025-12-10T23:09:27Z |
|
| dc.date.available |
2025-12-10T23:09:27Z |
|
| dc.date.issued |
2024-12-11 |
|
| dc.identifier |
Elektronický archiv Knihovny UTB |
|
| dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10563/57218
|
|
| dc.description.abstract |
Táto práca sa venuje využitiu skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) v kombinácii s energiovo disperznou röntgenovou spektrometriou (EDS) na analýzu kovových materiálov. Teoretická časť stručne popisuje princíp fungovania oboch metód, ich výhody, obmedzenia a možnosti využitia v oblasti forenznej analýzy, materiálového inžinierstva a bezpečnostných technológií. Uvedené sú tiež rozdiely oproti iným analytickým metódam, ako sú atómová absorpčná spektrometria (AAS), indukčne viazaná plazmová emisná spektrometria (ICP-OES) a röntgenová fluorescenčná spektrometria (XRF). V praktickej časti bola analyzovaná vzorka strieborného šperku s puncovou značkou 925. Vzorka bola pripravená čistením izopropylalkoholom a analyzovaná pomocou zariadenia ZEISS MA15 a EDS detektora Bruker XFlash 630M. Výsledky merania preukázali, že obsah striebra zodpovedá deklarovanej rýdzosti. Práca zároveň poukazuje na význam SEM/EDS v oblasti bezpečnosti, napríklad pri overovaní pravosti cenných predmetov a v forenznom skúmaní materiálových stôp. |
|
| dc.format |
61 s. (68 320 znaků) |
|
| dc.language.iso |
sk |
|
| dc.publisher |
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně |
|
| dc.rights |
Bez omezení |
|
| dc.subject |
Analýza
|
cs |
| dc.subject |
SEM
|
cs |
| dc.subject |
EDS
|
cs |
| dc.subject |
drahé kovy
|
cs |
| dc.subject |
falzifikáty
|
cs |
| dc.subject |
Analysis
|
en |
| dc.subject |
SEM
|
en |
| dc.subject |
EDS
|
en |
| dc.subject |
precious metals
|
en |
| dc.subject |
counterfeits
|
en |
| dc.title |
Analýza drahých kovov pomocou energeticky disperznej spektrometrie |
|
| dc.title.alternative |
Analysis of Precious Metals Using Energy Dispersive Spectroscopy |
|
| dc.type |
bakalářská práce |
cs |
| dc.contributor.referee |
Mikuličová, Michaela |
|
| dc.date.accepted |
2025-06-12 |
|
| dc.description.abstract-translated |
This thesis focuses on the application of Scanning Electron Microscopy (SEM) combined with Energy-Dispersive X-ray Spectrometry (EDS) for the analysis of metallic materials. The theoretical part briefly describes the principles of both methods, their advantages, limitations, and potential applications in forensic analysis, materials engineering, and security technologies. It also outlines differences compared to other analytical techniques such as Atomic Absorption Spectrometry (AAS), Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry (ICP-OES), and X-ray Fluorescence (XRF).In the practical part, a silver jewelry sample marked with a 925 hallmark was analyzed. The sample was prepared by cleaning with isopropyl alcohol and examined using a ZEISS MA15 microscope with a Bruker XFlash 630M EDS detector. The results confirmed that the silver content corresponded to the declared fineness. The thesis also highlights the importance of SEM/EDS in the security field, for example, in verifying the authenticity of valuable items and forensic trace material analysis. |
|
| dc.description.department |
Ústav bezpečnostního inženýrství |
|
| dc.thesis.degree-discipline |
Bezpečnostní technologie, systémy a management |
cs |
| dc.thesis.degree-discipline |
Security Technologies, Systems and Management |
en |
| dc.thesis.degree-grantor |
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky |
cs |
| dc.thesis.degree-grantor |
Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics |
en |
| dc.thesis.degree-name |
Bc. |
|
| dc.thesis.degree-program |
Bezpečnostní technologie, systémy a management |
cs |
| dc.thesis.degree-program |
Security Technologies, Systems and Management |
en |
| dc.identifier.stag |
69387
|
|
| dc.date.submitted |
2025-06-02 |
|