Možnosti Ramanovy spektroskopie při analýze padělků elektronických součástek

DSpace Repository

Language: English čeština 

Možnosti Ramanovy spektroskopie při analýze padělků elektronických součástek

Show simple item record

dc.contributor.advisor Neumann, Petr
dc.contributor.author Jelínek, Karel
dc.date.accessioned 2013-10-04T08:22:02Z
dc.date.available 2013-10-04T08:22:02Z
dc.date.issued 2012-02-24
dc.identifier Elektronický archiv Knihovny UTB cs
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10563/19395
dc.description.abstract Tato diplomová práce je zaměřena na objasnění pravosti elektronických součástek, zda pouţité materiály, z nichţ se pouzdra součástek skládají, obsahují stejné látkové sloţení jako originální ověřené součástky. Objasnění materiálového zastoupení je zkoumáno pomocí analytické metody Ramanovy spektroskopie. Teoretická část práce je zaměřena na výskyt nepůvodních součástek, dále jsou také uvedeny specifické znaky objevující se u nepůvodních součástek, ale rovněţ jsou představeny další metody přispívající k odhalení potenciálních padělků. V praktické části jsou popsána naměřená Ramanova spektra vybraných vzorků. Na průběh experimentálního měření navazuje také kapitola Vyhodnocení a diskuze hodnotící průběh měření. cs
dc.format 72 s., 1 s. (72 644) cs
dc.format.extent 2570710 bytes cs
dc.format.mimetype application/pdf cs
dc.language.iso cs
dc.publisher Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně
dc.rights Bez omezení
dc.subject Ramanova spektroskopie cs
dc.subject padělek elektronické součástky cs
dc.subject nepůvodní součástka cs
dc.subject Raman spectroscopy en
dc.subject counterfeits of electronic components en
dc.subject non-original parts en
dc.title Možnosti Ramanovy spektroskopie při analýze padělků elektronických součástek cs
dc.title.alternative The Possibilities of Using Raman Spectroscopy for Counterfeit Component Analysis en
dc.type diplomová práce cs
dc.contributor.referee Novotná, Miroslava
dc.date.accepted 2012-05-31
dc.description.abstract-translated This dissertation is focussing on clarification of authenticity of electronic components, especially on material composition. The aim was to sort out if the material composition of casing of non-original parts is identical with original ones. This was examined using Raman spectroscopy method. Theoretical part of dissertation is examining occurrence of non-original complements. New methods used in detecting counterfeits are also introduced. Measured Raman spectroscopy of selected samples is described in practical part. Development of experimental measurement is mentioned in the chapter evaluation and discussion which is appraising progress of measurement. en
dc.description.department Ústav elektroniky a měření cs
dc.description.result obhájeno cs
dc.parent.uri http://hdl.handle.net/10563/153 cs
dc.parent.uri http://hdl.handle.net/10563/220 cs
dc.thesis.degree-discipline Bezpečnostní technologie, systémy a management cs
dc.thesis.degree-discipline Security Technologies, Systems and Management en
dc.thesis.degree-grantor Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky cs
dc.thesis.degree-grantor Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics en
dc.thesis.degree-name Ing. cs
dc.thesis.degree-program Inženýrská informatika cs
dc.thesis.degree-program Engineering Informatics en
dc.identifier.stag 26424
utb.result.grade A
dc.date.submitted 2012-05-14
local.subject padělky cs
local.subject elektronické součástky cs
local.subject pravost cs
local.subject falsification en
local.subject electronic components en
local.subject authenticity en


Files in this item

Files Size Format View
jelínek_2012_dp.pdf 2.451Mb PDF View/Open
jelínek_2012_vp.doc 292Kb Microsoft Word View/Open
jelínek_2012_op.pdf 103.7Kb PDF View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Find fulltext

Search DSpace


Browse

My Account