Diagnostické metody pro určení prahu perkolace ultratenkých vrstev wolframu

DSpace Repository

Language: English čeština 

Diagnostické metody pro určení prahu perkolace ultratenkých vrstev wolframu

Show simple item record

dc.contributor.author Martínek, Tomáš
dc.date.accessioned 2019-10-01T07:11:44Z
dc.date.available 2019-10-01T07:11:44Z
dc.date.issued 2013-09-30
dc.identifier Elektronický archiv Knihovny UTB cs
dc.identifier.isbn 978-80-7454-864-2
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10563/45828
dc.description.abstract Práce je zaměřena na určení perkolačního prahu ultratenkých vrstev wolframu připravených pomocí radiofrekvenčního magnetronového naprašování. Charakterizace v nanometrové oblasti byla provedena pomocí mikroskopických technik. Dále bylo provedeno měření stejnosměrné elektrické povrchové vodivosti, dielektrické konstanty pomocí THz spektroskopie v časové doméně, optické propustnosti, optických spekter pomocí UV/VIS spektrofotometrie a luminiscenčních spekter. Z výsledků těchto měření byl určen elektrický perkolační práh na hodnotě (1,79 ? 0,28) nm.
dc.format 32
dc.format.extent 72
dc.language.iso cs
dc.publisher Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně cs
dc.rights Bez omezení cs
dc.subject perkolační práh cs
dc.subject ultratenké vrstvy cs
dc.subject povrchová rezistance cs
dc.subject luminiscence cs
dc.subject percolation threshold en
dc.subject ultra-thin layers en
dc.subject sheet resistance en
dc.subject luminescence en
dc.title Diagnostické metody pro určení prahu perkolace ultratenkých vrstev wolframu cs
dc.title.alternative Charakterizace ultratenkých vrstev wolframu
dc.type disertační práce cs
dc.contributor.referee Kos, Šimon
dc.contributor.referee Vašina, Petr
dc.contributor.referee Vetuško, Alexej
dc.date.accepted 2019-09-09
dc.description.abstract-translated Main goal of this work is to determine percolation threshold of ultra-thin tungsten films deposited by radio-frequency magnetron sputtering. Nanoscale characterization of these films was done by microscopic techniques. Electrical DC surface conductivity, dielectric constant using THz-TDS, optical transmittance, UV/VIS spectrophotometry and luminescence spectra were measured. Electrical percolation threshold of these films was calculated from results of these measurements at (1.79 ? 0.28) nm.
dc.description.department Ústav automatizace a řídicí techniky cs
dc.thesis.degree-discipline Inženýrská informatika cs
dc.thesis.degree-discipline Engineering Informatics en
dc.thesis.degree-grantor Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky cs
dc.thesis.degree-grantor Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics en
dc.thesis.degree-name Ph.D.
dc.thesis.degree-program Inženýrská informatika cs
dc.thesis.degree-program Engineering Informatics en
dc.identifier.stag 53639
dc.date.submitted 2019-06-18
local.subject wolfram cs
local.subject difuze cs
local.subject tungsten en
local.subject diffusion en


Files in this item

Files Size Format View Description
martínek_2019_teze.pdf 2.995Mb PDF View/Open
martínek_2019_dp.pdf 4.180Mb PDF View/Open None
martínek_2019_op.pdf 541.7Kb PDF View/Open None
martínek_2019_vp.pdf 289.8Kb PDF View/Open None

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Find fulltext

Search DSpace


Browse

My Account