Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů
Repozitář DSpace/Manakin
- Domovská stránka DSpace
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta technologická
- Ústav výrobního inženýrství
- Bakalářské práce
- Zobrazit záznam
Jazyk:
English čeština
Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů
Není dostupný náhled
| Název: | Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů |
| Autor: | Jemelka, Jakub |
| Vedoucí: | Kubišová, Milena |
| Abstrakt: | V této práci jsou popsány základní parametry jakosti povrchu vhodné pro výpočet korelací, včetně teoretického popisu i matematických vzorců. Další část se věnuje matematickému principu korelace. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/38064 |
| Datum: | 2016-01-08 |
| Dostupnost: | Bez omezení |
| Ústav: | Ústav výrobního inženýrství |
| Studijní obor: | Technologická zařízení |
| Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: | B
|
Citace závěřečné práce
Soubory tohoto záznamu
| Soubory | Velikost | Formát | Zobrazit | Popis |
|---|---|---|---|---|
| jemelka_2016_dp.pdf | 3.629Mb |
Zobrazit/ |
None | |
| jemelka_2016_op.pdf | 512.8Kb |
Zobrazit/ |
None | |
| jemelka_2016_vp.pdf | 520.7Kb |
Zobrazit/ |
None |
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
-
Bakalářské práce [1178]
