Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil
Repozitář DSpace/Manakin
- Domovská stránka DSpace
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta aplikované informatiky
- Ústav elektrotechniky a měření
- Diplomové práce
- Zobrazit záznam
Jazyk:
English čeština
Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil
Není dostupný náhled
| Název: | Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil |
| Autor: | Kudělka, Josef |
| Vedoucí: | Navrátil, Milan |
| Abstrakt: | Tato diplomová práce se zabývá principy zobrazování povrchů a měřením elektromagnetických vlastností vzorků pomocí metod vycházejících z mikroskopie atomárních sil (AFM). Největší důraz je kladen na studium polovodičových struktur s využitím kontaktního módu mikroskopie atomárních sil a skenovací mikrovlnné mikroskopie (SMM). K měření je použit mikroskopický systém Agilent 5420 SPM, který je v této práci rovněž popsán. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/25506 |
| Datum: | 2013-02-08 |
| Dostupnost: | Bez omezení |
| Ústav: | Ústav elektroniky a měření |
| Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: | A
|
Citace závěřečné práce
Soubory tohoto záznamu
| Soubory | Velikost | Formát | Zobrazit |
|---|---|---|---|
| kudělka_2013_dp.zip | 8.503Mb | Neznámý |
Zobrazit/ |
| kudělka_2013_vp.doc | 292Kb | Microsoft Word |
Zobrazit/ |
| kudělka_2013_op.pdf | 216.9Kb |
Zobrazit/ |
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
-
Diplomové práce [1494]
-
Vysokoškolské kvalifikační práce [25680]
