Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br>
Repozitář DSpace/Manakin
- Domovská stránka DSpace
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta aplikované informatiky
- Ústav elektrotechniky a měření
- Diplomové práce
- Zobrazit záznam
Jazyk:
English čeština
Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br>
Není dostupný náhled
| Název: | Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br> |
| Autor: | Martínek, Tomáš |
| Vedoucí: | Navrátil, Milan |
| Abstrakt: | Tato diplomová práce se zabývá zobrazovacími metodami mikroskopie se skenující sondou a skenovacím systémem Agilent 5420 SPM/AFM od společnosti Agilent Technologies. Možnosti tohoto systému jsou zanalyzovány a demonstrovány na několika praktických aplikacích. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/25429 |
| Datum: | 2013-02-08 |
| Dostupnost: | Bez omezení |
| Ústav: | Ústav elektroniky a měření |
| Studijní obor: | Bezpečnostní technologie, systémy a management |
| Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: | A
|
Citace závěřečné práce
Soubory tohoto záznamu
| Soubory | Velikost | Formát | Zobrazit |
|---|---|---|---|
| martínek_2013_dp.zip | 26.98Mb | Neznámý |
Zobrazit/ |
| martínek_2013_vp.doc | 294.5Kb | Microsoft Word |
Zobrazit/ |
| martínek_2013_op.pdf | 217.5Kb |
Zobrazit/ |
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
-
Diplomové práce [1494]
-
Vysokoškolské kvalifikační práce [25680]
