XRF analýza
Show simple item record
dc.contributor.advisor |
Bednařík, Vratislav
|
|
dc.contributor.author |
Gogolková, Klára
|
|
dc.date.accessioned |
2010-07-17T07:59:18Z |
|
dc.date.available |
2010-07-17T07:59:18Z |
|
dc.date.issued |
2009-05-15 |
|
dc.identifier |
Elektronický archiv Knihovny UTB |
cs |
dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10563/7916
|
|
dc.description.abstract |
Byly připraveny 4 sady kalibračních standardů pro rentgenovou fluorescenční analýzu zadaných vzorků pomocí spektrometru ElvaX. Účelem této přípravy bylo zanalyzování produktů polykondenzačních anorganických reakcí. Konkrétně se jednalo o 3 vzorky: produkty reakce "Si - Al", "Si - Zn" a "Si - Sn". Čtvrtá kalibrace je pro vzorek "Si - Cu", který dosud není k dispozici. Práce ukázala, že XRF spektrometrie je vhodnou metodou pro analýzu daných vzorků. |
cs |
dc.format |
64 stran |
cs |
dc.format.extent |
614769 bytes |
cs |
dc.format.mimetype |
application/pdf |
cs |
dc.language.iso |
cs |
|
dc.publisher |
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně |
|
dc.rights |
Bez omezení |
|
dc.subject |
rentgenová fluorescenční spektromertrie
|
cs |
dc.subject |
kalibrace
|
cs |
dc.subject |
křemík
|
cs |
dc.subject |
hliník
|
cs |
dc.subject |
draslík
|
cs |
dc.subject |
zinek
|
cs |
dc.subject |
cín
|
cs |
dc.subject |
měď
|
cs |
dc.subject |
xfr analysis
|
en |
dc.subject |
calibration
|
en |
dc.subject |
silicon
|
en |
dc.subject |
aluminium
|
en |
dc.subject |
potassium
|
en |
dc.subject |
zinc
|
en |
dc.subject |
tin
|
en |
dc.subject |
copper
|
en |
dc.title |
XRF analýza |
cs |
dc.title.alternative |
XRF analysis |
en |
dc.type |
diplomová práce |
cs |
dc.contributor.referee |
Vondruška, Milan |
|
dc.date.accepted |
2009-06-15 |
|
dc.description.abstract-translated |
It were prepared 4 sets of calibration standards for XRF analysis of immixture samples by ElvaX spektrometr. The purpose of this preparation was analyse of reaction's products of inorganic polycondenzation. In the concrete, it is spoken about 3 samples: products of reaction:"Si - Al", "Si - Zn" and "Si - Sn". Fourth calibration for the sample "Si - Cu" is still not prepared till this time. This work demonstrated that XRF spektrometry is siutable method for analysis these samples. |
en |
dc.description.department |
Ústav inženýrství ochrany živ. prostředí |
cs |
dc.description.result |
obhájeno |
cs |
dc.parent.uri |
http://hdl.handle.net/10563/200
|
cs |
dc.parent.uri |
http://hdl.handle.net/10563/220
|
cs |
dc.thesis.degree-discipline |
Inženýrství ochrany životního prostředí |
cs |
dc.thesis.degree-discipline |
Enviromental Protection Engineering |
en |
dc.thesis.degree-grantor |
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta technologická |
cs |
dc.thesis.degree-grantor |
Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Technology |
en |
dc.thesis.degree-name |
Ing. |
cs |
dc.thesis.degree-program |
Chemie a technologie materiálů |
cs |
dc.thesis.degree-program |
Chemistry and Materials Technology |
en |
dc.identifier.stag |
10784
|
|
dc.date.assigned |
2009-02-09 |
|
utb.result.grade |
B |
|
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
Show simple item record
Search DSpace
Browse
-
All of DSpace
-
This Collection
My Account