Aplikace laseru pro otevření přístupu k systému na čipu zapouzdřené součástky

Abstract

Diplomová práce je zaměřena na aplikaci laseru pro otevření přístupu systému čipu zapouzdřené součástky z důvodu ověření její pravosti. Teoretická část se zabývá problematikou padělání elektronických součástek, odkud a proč se tyto padělky objevují a také, které elektronické součástky jsou nejčastěji padělány. Dále jsou popsány základní metody odhalování padělaných elektronických součástek a materiály používané pro výrobu pouzder těchto součástek. Cílem praktické části je sestavení receptury pro zpřístupnění čipu zkoumané součástky. Dalším cílem je ověření vlivu technologického procesu na funkčnost součástky pomocí měření voltampérových charakteristik na detektoru padělků. Experimentální návrh a ověření výsledné receptury je systematicky vyhodnoceno a prodiskutováno.