Analýza drahých kovov pomocou energeticky disperznej spektrometrie

Abstract

Táto práca sa venuje využitiu skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) v kombinácii s energiovo disperznou röntgenovou spektrometriou (EDS) na analýzu kovových materiálov. Teoretická časť stručne popisuje princíp fungovania oboch metód, ich výhody, obmedzenia a možnosti využitia v oblasti forenznej analýzy, materiálového inžinierstva a bezpečnostných technológií. Uvedené sú tiež rozdiely oproti iným analytickým metódam, ako sú atómová absorpčná spektrometria (AAS), indukčne viazaná plazmová emisná spektrometria (ICP-OES) a röntgenová fluorescenčná spektrometria (XRF). V praktickej časti bola analyzovaná vzorka strieborného šperku s puncovou značkou 925. Vzorka bola pripravená čistením izopropylalkoholom a analyzovaná pomocou zariadenia ZEISS MA15 a EDS detektora Bruker XFlash 630M. Výsledky merania preukázali, že obsah striebra zodpovedá deklarovanej rýdzosti. Práca zároveň poukazuje na význam SEM/EDS v oblasti bezpečnosti, napríklad pri overovaní pravosti cenných predmetov a v forenznom skúmaní materiálových stôp.