Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií
DSpace Repository
- DSpace Home
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta aplikované informatiky
- Ústav elektrotechniky a měření
- Diplomové práce
- View Item
Language:
English čeština
Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií
No preview available
| Title: | Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií |
| Author: | Aliaj, Rafaela |
| Advisor: | Neumann, Petr |
| Abstract: | Tato práce se zabývá možnostmi využití konfokální mikroskopie k rozpoznání rysů nepůvodních systémů na čipu (SoC) integrovaného obvodu a je jednou z prvních v oblasti aplikace konfokální mikroskopie. Práce sestává ze dvou částí, části teoretické a části experimentální. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/49843 |
| Date: | 2021-07-23 |
| Availability: | Bez omezení |
| Department: | Ústav elektroniky a měření |
| Discipline: | Security Technologies, Systems and Management |
| Grade for thesis and defense: | A
|
Citace závěřečné práce
Files in this item
| Files | Size | Format | View | Description |
|---|---|---|---|---|
| aliaj_2021_dp.pdf | 8.849Mb |
View/ |
None | |
| aliaj_2021_op.pdf | 120.2Kb |
View/ |
None | |
| aliaj_2021_vp.doc | 91Kb | Unknown |
View/ |
None |
This item appears in the following Collection(s)
-
Diplomové práce [1494]
