Současné trendy v hodnocení topografie povrchu pomocí světelné mikroskopie
Show full item record
No preview available
Title:
|
Současné trendy v hodnocení topografie povrchu pomocí světelné mikroskopie |
Author: |
Ryzí, Adriana
|
Advisor: |
Čermák, Roman
|
Abstract:
|
Tato práce se věnuje problematice světelné mikroskopie, konkrétně mikroskopickým metodám, které se používají při hodnocení povrchů různých materiálů. Nejprve pojednává o optických základech světelné mikroskopie a vysvětluje některé pojmy z optiky (viditelné světlo, polarizace, odraz, lom a rozklad světla, interference, difrakce atd.). Ve druhé části se zabývá již samotným světelným mikroskopem, jeho omezeními, různými mikroskopickými metodami používanými k hodnocení topografie povrchů a možnou budoucností světelné mikroskopie. V poslední, praktické části se snaží srovnat dostupné mikroskopické metody na vzorku barevné tkaniny. |
URI:
|
http://hdl.handle.net/10563/39132
|
Date:
|
2016-01-15 |
Availability:
|
Bez omezení |
Department:
|
Ústav inženýrství polymerů |
Discipline:
|
Polymerní materiály a technologie |
Grade for thesis and defense:
|
A
44413
|
Citace závěřečné práce
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
Show full item record
Search DSpace
Browse
-
All of DSpace
-
This Collection
My Account