Laboratoř pro analýzu vzorku
Skenovací mikroskop atomových sil a jeho příslušenství
Skenovací mikroskop atomových sil, který umožňuje zobrazování elektronických struktur, senzorů, biologických struktur až po jednotlivé atomy. Zařízení bude využito především v oblasti mechanických a elektronických zabezpečovacích systémů pro výzkum a vývoj nových materiálů vhodných pro konstrukci bezpečnostních dveří a okenních rámů, vývoj bezpečnostních prvků, bezpečnostních folií a skel odolných proti rozbití.
Interaktivní prezentace obsahuje:
- Skenovací mikroskop atomových sil
- MAC Mode III
- Antivibrační skříň
- Napájení s duálním výstupem
- Hlavní elektronika
- Obvodový analyzér
- AFM Controller
- Ukázka softwaru PicoView
AFM Skenovací mikroskop atomových sil
- Skenovací rozsah: 90μm x 90μm x 8μm
- Hlučnost: 0.5Å
Velký víceúčelový scanner:
- Skenovací rozsah: 90μm x 90μm
- Z-rozsah: 8μm
Malý scanner:
- Skenovací rozsah: 9μm x 9μm
- Z-rozsah: 2μm
Více informací naleznete na stránkách výrobce
MAC Mode III
- Vstupní frekvenční rozsah: 200Hz až 6MHz; -3dB
- Výstup: devět softwarově volitelných hodnot ( 80Hz a
100Hz, 200Hz, 500Hz, 1kHz, 2kHz,
5kHz, 10 kHz, 20 kHz)
- Frekvenční rozlišení: 0.009Hz
- Tři zesilovače modulů
Více informací naleznete na stránkách výrobce
AFM Kontroler
- Vstup: deset 16-bitových kanálů
- Výstup: čtyři 24-bitové kanály, ± 10V
- Rozhraní USB
- Napájení: 100 - 120V AC nebo 220 - 240V AC 1A; 50 - 60Hz
Více informací naleznete na stránkách výrobce
Ramanův mikrospektrometr InVia Basis
Ramanova spektroskopie slouží pro identifikaci materiálů. Výhodou je, že analyzovat vzorky (ať už organické, anorganické, pevné, kapalné nebo plynné) je možné přes jakýkoliv obalový materiál.
Zařízení bude využito pro vývoj detekčních systémů výbušných látek a pro vývoj zobrazovacích systémů pro metrové vzdálenosti k zjišťování zbraní a výbušnin v zavazadlech nebo pod oděvem.
Ramanův mikrospektrometr InVia Basis
- Spektrograf s ohniskovou vzdáleností: f = 250 mm (propustnost < 30%)
- Nejmenší stopa laserového svazku : d = 1 μm (dle objektivu a vlnové délky laseru)
- Velikost stopy laseru v rozsahu: od 1 μm až 300 μm
- Rayleighův dielektrický filtr optimalizovaný na vlnovou délku: 514 nm
- Motorizovaný nosič difrakčních mřížek s vestaveným úhlovým odměřováním nesoucí magneticky upnutou difrakční mřížku s hustotou 1800 čar/mm
- Technologie Synchroscan
Více informací naleznete na stránkách výrobce
Tera View spektrometr
Tera View spektrometr
- Terahertzový přenos a měření odrazu v pevných látkách, kapalinách, suspenzí a kalů
- Spektrální rozsah 0,06 THz až 4 THz
- Solid-state emitor a detektor okolní teploty provozu
- ATR moduly pro optimalizované měření na pouhém 1 mg pevného vzorku
Více informací naleznete na stránkách výrobce
